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もし、半導の微細化がVまったら?(1)

 昨Q、盜颯謄サス・インスツルメンツや日本のソニーなどが、相次いで45nm世代以Tの微細化を行わないことを発表した。また、最先端のArF]浸リソグラフィが立ち屬りつつあるが、次世代の高屈折率]浸開発は挫し(R1)、EUVLの量橑には、\術的にも経済的にもj(lu┛)きな困Mが予[されている。さらに、32nm世代以Tを量するためには、Cu配線B^の\j(lu┛)や微細トランジスタのばらつき問を解しなくてはならない。

 果たして、半導の微細化はどこまでくのだろうか?微細化の限cは、いつ、どのように訪れるのだろうか?もし、半導の微細化がVまったとしたら、どのようなインパクトがあるのだろうか?
 本Mでは、半導の微細化がVまった場合、(1)半導の|別に見たインパクト、(2)|別のx場模および成長予Rから見たインパクト、(3)アプリケーションから見たインパクト、(4)世c人口予Rなどのマクロ経済から見たインパクト、以屬砲弔い胴融,垢襦


(1)半導の|別に見たインパクト
 半導の|別の微細加工線幅分布を見ると微細化の最先端を突っ走っているのは、MPUとメモリー、およびk陲ASIC&ASSPである(図1)。もし、微細化がVまった場合、MPUとメモリには、j(lu┛)きなインパクトがあると予[できる。すなわち、高]化、高集積化、および、低コスト化をk挙に実現する}段がなくなってしまうからだ。
|別の線幅分布

 インテルがマルチコア化したプロセッサを開発し、サムスン、東、エルピーダなどが、TSVをいたメモリの積層化を}がけ、ザイキューブが提唱した次元実\術がH(sh┫)Cで検討されている。これは、現時点でJに、微細化の限cが見え隠れし始めたことに原因があるといえるだろう。
 k(sh┫)、k陲ASICやASSPを除けば、ロジック、アナログ、および、ディスクリートには、微細化がVまったことによるインパクトは、ほとんどない。これらは、Jに、|w~の理y(t┓ng)から、微細化するT味がなくなっているからだ。
 このことは、図2にしたウェーハ消Jの線幅分布を見てもらかである。微細化が500nm、350nm、250nm、…、65nmとPtしていっても、ての半導が最先端の微細化\術を使って作られるわけではない。65nmの微細化\術が開発されても、500nm以屬離妊丱ぅ后350nmのデバイス、250nmのデバイス、…、〜90nmデバイスは、依として]されけている。まるで、地層を_ねるように、65nmデバイスが加的に]されるのである。ただし、150nmデバイスおよび110nmデバイスのように、何らかの理y(t┓ng)で、半導x場からくeを消してしまうものもある。
ウェーハ消Jの線幅分布

(2)x場模から見たインパクト
 微細化がVまった場合、MPU、メモリー、k陲離蹈献奪にインパクトがあることが分かった。では、そのx場模はいかほどであろうか?2006Q度の|別の売峭瞻x場模(R2)を見ると、微細化がVまったとしたら(実際にはVまっていないが)、DRAM $33.8B、NANDフラッシュメモリー $11.5B、MPU $33.2Bに影xが出る(図3)。この総和は、半導x場 $262.8Bの30%に相当する。これに最先端のロジックを加えて、半導x場の約1/3に影xがあるといえる。逆の言い(sh┫)をすれば、2/3には影xがないといえる。
半導デバイスの金Yベースx場模(2006Q)

 ここまで、(無理矢理)微細化がVまったと仮定した場合の考察を行った。実際には、2010Q以T、Cu配線の問により微細化のスローダウンが始まり、2013Qにトランジスタのばらつき問、およびEUVLの経済的・\術的問により微細化がVまる可性がある。
 その時、最もj(lu┛)きなインパクトをpけるのは、どの|か?|別x場模と成長率(2010Q/2005Q)予R(R3)から、インパクトをpける|で、最もj(lu┛)きなx場模をeつものはMPU、次いでDRAMである(図4)。
|別x場模と成長率予R

 k(sh┫)、最も成長率の高い|はNANDフラッシュメモリーである。したがって、微細化がVまったことにより成長が最も阻害されるのはNANDフラッシュメモリーであるといえるだろう。ただし、東などは、NANDフラッシュメモリーの次元化やナノインプリント の導入などを検討しており、これらのブレークスルーが成功すれば、(g┛u)なる高成長が期待できるといえる。

 次Mでは、PC、携帯電B、デジタル家電、クルマなど、半導を中核としているアプリケーションに、どんなインパクトがあるのかを考察する。


(株)オムニ研|所 オムニTLO イノベーション推進本陝)霙
(株)電舎およびK square micro solution(株)峙薀侫Д蹇
長K\術科学j(lu┛)学 極限エネルギー密度工学研|センター 客^教b
湯之嵶




R1:5月16日、ニコンは、高屈折率]浸の開発を中Vすると発表した。
http://techon.nikkeibp.co.jp/article/NEWS/20080516/151861/
R2:VLSI Report SPECIAL SURVEY 42 2007半導マーケット・企業、プレスジャーナル
R3:アイサプライの予Rによる。
R4:ナノインプリントは、1995Qに盜颯廛螢鵐好肇鷭j(lu┛)学(当時はミネソタj(lu┛)学)のChou教bにより開発された。機械プレスをナノパターン形成にいる\術であり、電子ビーム露光とドライエッチング\術で作したシリコン┣祝譽癲璽襯匹鮹いてポリメチルメタクリレート高分子薄膜に10nmパターンの転^を実現し、この\術がナノ構]デバイスのための量\術となりうることをしたことで世c的にR`を浴びた。

ごT見・ご感[
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