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LEAPの成果報告、どうするか、問われる参加企業

低電圧デバイス\術研|組合(LEAP)のプロジェクト「低炭素社会を実現する低電圧デバイスプロジェクト」は平成22Q度から本Q度までの5Q間に渡って研|されてきた。LEAPが主する「4v 低炭素社会を実現する低電圧デバイスプロジェクト成果報告会」がこのほど開かれ、その開発されたデバイスが披露された。

図1 LEAPが主した成果報告会

図1 LEAPが主した成果報告会


トランジスタとメモリのDり組み 
LEAPが5Q間Dり組んできたテーマは五つ。SOTB-CMOSと}ぶトランジスタ構]、STT-MRAM、PCメモリ、原子‘扱織好ぅ奪船妊丱ぅ后△修靴謄淵離ーボン配線である。SOTB-CMOSは、CMOSトランジスタのチャネル覦茲縫離鵐鼻璽彖悗鮴澆院▲押璽箸靴い電圧Vthのバラつきをらし、かつSOIウェーハによって空層を峅爾らはさみリーク電流をらす構]を採った。バラつきを抑えることで、電源電圧を下げることができる。例えば0.2〜0.4Vのしきい電圧で、0.5〜0.8Vの動作電圧を[定し、10万ゲートの模のチップで100nA以下のリーク電流を達成している(図2)。さらに、中性子線によるソフトエラーにもバルクに比べ3けた咾い海箸魍稜Г靴討い襦


図2 SOI CMOSにノンドープ層を設けたSOTB(Silicon on Thin Buried Oxide)トランジスタの性Α―儘Z:LEAP

図2 SOI CMOSにノンドープ層を設けたSOTB(Silicon on Thin Buried Oxide)トランジスタの性Α―儘Z:LEAP


原子‘哀好ぅ奪舛任蓮FPGAなどのロジックセルの切りえスイッチとして使うことを狙っており、来FPGAのスイッチに使われているSRAMを原子‘哀好ぅ奪舛き換えたチップを作り比較した。来SRAMプロセス、原子‘哀好ぅ奪船廛蹈札垢箸65nmの1層ポリシリコン、7層メタル層のH層配線のCMOS\術を使した。1セル当たり2×4入のLUT(ルックアップテーブル)のセルC積を比較すると、原子‘哀好ぅ奪舛SRAMベースの1/4となった。

またいくつかのSRAM基本v路を試作し、SRAMと原子‘哀好ぅ奪舛箸寮Δ眸羈咾靴拭16ビットカウンタでは時間は半、4ビット乗Q_では1/3にった(図3)。ただし、24ビットの線形帰殴轡侫肇譽献好燭任呂曚箸鵑品僂錣蕕覆った。動作電も比較した。16ビットカウンタと24ビット線形帰殴轡侫肇譽献好燭任脇虻郢電は共に2/3度り、4ビット乗Q_では1/3にった。共に電源電圧は0.8V。原子‘哀好ぅ奪舛妨くRTLのb理合成・マッピングツールも作成している。原子‘哀好ぅ奪舛CMOSプロセスのH層配線霾に設けるため、プロセス屬里覆犬澆藁匹い茲Δ澄


図3 来のSRAMベースの基本v路と、原子‘哀好ぅ奪船戞璽垢里修譴箸糧羈咫―儘Z:LEAP

図3 来のSRAMベースの基本v路と、原子‘哀好ぅ奪船戞璽垢里修譴箸糧羈咫―儘Z:LEAP


STT-MRAMでは、微細化するとMTJ(磁気トンネル接合)の∨.丱蕕弔がjきくなるという問があった。そこで接合の周囲の篳匹┣修垢襪海箸納尊櫃寮楾腓猟招造鯣細にした。すると、バラつきが少した。そこでリソグラフィによる駘∨,35nmと来と同じに加工しながらもMTJの電気的・時期的∨,35µmから20µmに微細化すると、書き換え電流が来の40µAから15µAに低した(図4)。篳┣修縫好僖奪燭O┣修鴆することで、リーク電流成分も消えたとしている。


図4 微細化してもバラつきは\加せず消J電流も下がった 出Z:LEAP

図4 微細化してもバラつきは\加せず消J電流も下がった 出Z:LEAP


16Kビットのメモリアレイも試作した。B^バラつき3σは`Yの16%以下をクリヤーした。マクロh価に1Mビットアレイも試作している。書き換えv数の加]試xではストレス電圧を0.9Vから0.8V、0.7Vと加え、0.65Vでは10の16乗というv数を見積もっている。MTJはさらに磁気センサとしても動作できるため、メモリだけではない応研|も進めている。

実化に向けた問解へ
相変化メモリRAMでは、ANDフラッシュ並みの小さなセルC積でありながら、来のPRAMよりも低消J電動作ができるTRAMを開発中だ。PRAMではSb、Te、Geの合金のT晶と晶のスイッチングによって変わるB^をWしたが、TRAMではT晶AからT晶Bへの,鮠Wするため、消J電が低いうえに高]の動作が可Δ澄GeTe膜とSb2Te3膜を交互に何層も_ね合わせる「格子」を作る。そのT果、来のPRAMと比べ、電源電圧は40%に下がり、消J電流は半した。1M/2Mのマクロを試作し動作を確認しているが、`による高B^不良が発擇靴討り、これを解する要がある。

最後にナノカーボン配線だが、要求は二つある。kつは、Cu配線を微細化すると配線のシートB^が\していく問を解できること。もうkつは、3次元NANDフラッシュのように高いアスペクト比の導通配線が求められることだ。コンタクトホールやTSVをmめるのにナノカーボンが向く。横妓の配線にはH層グラフェンを使い、e妓の配線にはCNT(カーボンナノチューブ)を使い分けする。ナノカーボン配線密度がまだ低いが、300mmウェーハに形成するという実xを行った。

これらの成果を出@会社が攵ラインに載せることができると、新たに開発するよりもコストを抑えられる。もちろん、しっかりしたマーケティングが_要で、顧客開をエンジニアがOら行わなければならない。そのための投@も要だが、他の開発でも同様な投@がかかると考えるのなら、T局、する気ROIは~Wではないだろうか。

(2015/03/24)
ごT見・ご感[
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