図1　アドバンテスト代表�D締役の松野晴夫社長　出�Z：アドバンテスト

アドバンテストといえばDRAMテスターのメーカーという印��が�咾い曚鼻�DRAMテスターにシフトしていた。2007�Qからのマイクロソフトの”VISTA不況”とそれに��くリーマンショックを代表とする世�c金融恐慌の荒�Sにもまれ、2�Q連�����Cを経�xした。しかし、その不況の最中にも積極的な��めを�t開、��に成長分野への投�@を�Lかさなかった。2008�Q8月にミクストシグナル�Uのテスターメーカー�櫂�リーデンスシステムズ（Credense Systems）のドイツ法人のCredense Systems GmbHを�A収、�Z載��半導��とパワーマネジメントIC（PMIC）��のテスター�\術を�}に入れた。その成果として2010�QにPMIC��のテストモジュールを�x場に投入できた、と松野社長は語る。

半導��デバイスが成長�噞であり、��に携帯情報端��や�O動�Zエレクトロニクスの分野、そしてパワーマネジメントを代表とする電��効率の向�屬砲弔覆�るニーズ、といった分野を�_点的に��めていく。だからといって脱DRAMという�lではない。DRAMはようやく長いトンネルを�sけ、今後は�Pびが期待できるようになり、��に携帯端��向けのモバイルDRAMは�Q平均成長率47%で�Pびていくと見る(図2)。携帯����では、単なる組込コンピュータのRAMというだけではなくビデオ応��が進んでいるためDDR2からDDR3へと高�]化が進んでいく。加えて、コンピュータ��のDRAMとしても32ビットの壁を�Dり払い64ビットシステムへの�々圓�顕著になってきた現在、DRAMの�j容量化も再び加�]するという見�気盒板cでは出てきている。

図2　DRAMはこれからが楽しみ　出�Z：アドバンテスト

DRAM以外のメモリー分野でも当���jきな�Pびが期待できる。��に、松野社長は、通信��半導��とCMOSイメージセンサー、�Z載��半導��、PMICを成長する半導��分野と定めた(図3)。このうち、GPU（グラフィクスプロセッサ）やアプリケーションプロセッサ、通信��ベースバンド、RFなどに�咾��櫂戰螢検次�Verigy）社の�A収を��め、携帯情報端��や�O動�Zエレクトロニクス分野への地盤を�wめた。加えて、CMOSイメージセンサーやPMICなどにもテストモジュールを2010�Qに�x場へ投入し、今後の�Bがかりとした。

図3　��を入れる成長分野のIC　出�Z：アドバンテスト

携帯情報端��で�_要なストレージとなるNANDフラッシュ��のテスターはこれまでほとんど�}つかずの�X��だった。顧客の中には、DRAM��のテスターを同じメモリーテスターとして使うところもあったという。アドバンテストは、満を�eして2011�Q7月に�盜颯汽鵐侫薀鵐轡好海燃�かれるセミコンウェストにおいてフラッシュメモリー��のテスターを発表する��画だと松野社長は語った。同��は、NANDフラッシュメモリーでも高�]化の動きが出てきているため、同社にとっての�{い風となると�O信に充ち溢れている。DRAMテスターで築いてきた高�]化の要求、すなわちDDRからDDR2、DDR3へと発�tしてきた�\術をNANDフラッシュにも�擇�すことができるからだ。

アドバンテストの戦�Sは極めて����だ。不�u�TだったロジックやRFはベリジーを�A収、アナログやパワーマネジメントはクリーデンスを�A収、そしてNANDフラッシュに�瓦靴討呂海譴泙巴濱僂靴討�たDRAM�\術を����する、といった積極策をとる。もはや世�cレベルのグローバルカンパニーといえるのではないだろうか。