IIoTアーキテクチャがzになってきたNIWeek 2015 (2)
National Instrumentsが主するNIWeek 2015(参考@料1)では、工業IoT(IIoT)を使い、さまざまなシステムを開発した例が発表された。心臓/△мq、Cirrus LogicのオーディオコーデックICのテストデータを解析する企業、豢機の翼や機の異常を音Sで検出する例などを紹介する。いずれもデータ解析機Δ鮴澆韻討り、「IIoT Ready」になったとしている。
心臓/△凌]化を図る
心臓/△任蓮▲疋福次閉鷆’v)が現れるまで通常は8ヵ月かかると言われている。さらにドナーが見つかった後でも、患vの心臓を素早く交換するために、最適な心拍タイミングなどを予めシミュレーションしておくことが望ましい。/△k刻を争う。その適合性や患vのに合った心拍挙動を予め瑤辰討けば、スムーズな/△できるようになる。心臓患v向けの心臓シミュレータや人工心臓を開発しているドイツのBerlin Heart社は、テキサスΔ両Sarahさんに心臓シミュレータシステムを適し、心臓/△鮴功に導いたという。図1はいたシステムである。p]に瑤擦翠]のポンプを作り、ポンプに送る空気圧、使する2次電池やそのU御v路などを組み込んだ。NIのLabVIEWでテスト設定やv路設を行った。シミュレーションにってポンプに送り込む空気圧を定する。テストT果をパソコンへレポートする。
図1 Berlin Heart社が開発した心臓シミュレータ
なお同社の心臓/мqシステムは、盜颪離謄サス小児院だけではなく、この7月に日本の厚労省の認可をDuしているという。
半導ICのテストデータ解析ビジネス
c效半導メーカーCirrus LogicがNIの半導テスターSTS(参考@料2、3)を使うことで、オーディオコーデックICのテストカバレージを維eしながらテスト時間を30%]縮できたと述べた。このT果、テストコストを抑えることができた、とCirrus Logics社のテストエンジニアのJohn Cookeはらかにした。NIのSTSテスターが来のテスターと比べて、~Wな点は、開発した半導チップの性h価にいたテスターをそのまま量へ拡張して々圓任ることだとしている。テストのソフトウエアやR定アルゴリズム、PXI、フィクスチャーとケーブルをそのまま量咁にも使える。
図2 NIのSTS半導テスターのメリットは試作と量のテスターをそのまま使えるできること 出Z:National Instruments
今v、NIは半導テストデータを管理するコンサルティングサービス会社のOptimal+(オプティマルプラスと発音)社も紹介した。Optimal+社のマーケティング担当VPのKeith Arnold(図3)によると、半導メーカーのテストデータをて、Optimal+社のデータベースサーバに送りそこに蓄積する。半導チップの性h価(characterization)やAC/DCデータ(パラメータテスト)、ファンクションテストデータ、ハードウエアプログラムなどテストに要なてのデータを管理し、解析、歩里泙蠻曄▲如璽織僖拭璽鵑長抽出などデータ解析に関するての情報を顧客に提供する。顧客には、STMicroelectronicsやFreescale Semiconductor、AMD、Qualcommなどがいるが、Cirrusはまだ顧客になっていないという。
図3 Optimal+社マーケティング担当VPのKeith Arnold
この新しいコンサルティングサービスはに問がきた時に威を発ァする。テストを行うOSAT(Out-Sourced Assembly and Test)のテストデータとOptimal+のデータベースサーバはインターネットを通じて常に接されており、リアルタイムにデータのk致性を保証する。たまにはOSATの作業vの入ミスなどでデータが異なる場合があるが、そのような場合でもt座に発見し、Optimal+は常にデータを保証する。同社の顧客はファブレスやIDMなど半導メーカーである。OSATはテストするだけであり、そのテスト内容には関与しない。このため、Optimal+は半導メーカーとの信頼関係を築き、守秘契約を交わす。同社のビジネスモデルは、データベースソフトウエアをサブスクリプションモデルで販売すると共に、OSATにはテスト解析エンジニアを常駐させておく。9ヵ月iに東Bにもオフィスを設するようになったという。
音Sによる破s検h
NIのテストシステムを使い、音Sによる破s検hイメージングを開発したのがDiagnostic Sonar社である。F婦の内を検hする音Sと原理は同じであるが、カラーで可化して豢機の翼や機のL陥がないかどうかをリアルタイムでカラー表する。表Cをスキャンして内陲琉枉錣魏化する(図4屐法音Sを発しその反oSをpけるため、表Cに水を塗りながらスキャンする(図4下)。デモでは、下地のっぽい基の屬髻白いハンディなデバイスでスキャンしながら、基内陲琉枉錣破sで検hしている。豢機の翼などは通常、蜂の巣Xのハニカム構]になっているが、この構]に異常があれば翼の劣化につながりe険なXになりうる。スキャンしながら、異常を靴たГ妊螢▲襯織ぅ爐防戎する。
図4 NIのテスターを使った音S破s検hによる可化
このを開発するにあたって、コントローラにNI社のFlexRIOを使い、カスタマイズすべきところをXilinx社のFPGA「Kintex」をWした。音Sからの單戰如璽燭鮨けしてリアルタイムで表する演QにZ労したという。
これらの例で見られる共通項は、センサからuられたデータを収集・解析し、システムにフィードバックしていることである。IIoTの新しいアーキテクチャは、データを解析しD理したうえで、インターネットにD理されたデータとして送ることで、ビッグデータ解析のデータ量をらすことができる。ビッグデータ解析ではHadoop関数をいて、データをH数のコンピュータに振り分け、それぞれ演Qしたのちにもうk度Jねるという操作を行う場合が~だ。このため最初からデータをD理しておけば、ビッグデータの演Qは軽くなり、フィードバックの時間を]縮できる。NIは、「IIoT Ready」の時期に入った、と見ている。
参考@料
1. IIoTアーキテクチャがzになってきたNIWeek 2015 (1) (2015/08/05)
2. NI、RF/ミクストシグナルIC向けフレキシブルなテスターをリリース (2014/08/07)
3. フレキシブルに進化するテスターで半導業cに本格参入する日本NI (2014/10/29)