東��S&S、アナログICのテスト時間を1/143に�]縮、NIのツールが威��を発ｧ
アナログやミクストシグナルICなどの試作�h価は�}間がかかり、設��するたびにテストプログラムを作らなければならない。さまざまなテスト条�P作成をはじめ�T構な時間がかかる。少しでも�O動化してプログラムを再�W(w┌ng)��できれば、次のデバイス�h価の時間を�]縮できる。東��は、National Instrumentsのハードとソフトを初めて使ってテスト時間を1/143以下に�]縮したという��例を発表した。
図1 テストに使ったNational Instrumentsのツール �R定�_(d│)��の�Eい基��がDUT
東��セミコンダクター＆ストレージ（S&S）社が今�vの�h価で��いたICは、加�]度センサーからの信��(gu┤)にフィルタリング処理を施し�\幅し後段のASICに送るというアナログチップ。HDD（ハードドライブ）の動作中に振動を検出する。ICのテストプログラムは、�v路設��が終わりプロセスに入ると同時に開発し始める。ICの試作が終わり、ファーストシリコンが出来�屬�るまでに初期�h価するためのプログラムを開発する。�h価�T果をプログラムにフィードバックしデバッグして量��のテスト開発プログラムに��かす。
�h価では、ICに加える電圧や電流、任�Tのサイン�S形などの値を変え、ICからその�S形や電圧、電流の値を�R定する。ソースメジャーユニット（SMU）とAWG（任�Tの�S形発�昊_(d│)）、デジタルマルチメータ、デジタイザなどの�R定�_(d│)を使う。さらに�R定条�Pはさまざまあるため、マトリクススイッチを��いて、�O動的に条�Pを切り��えられるようにした。こういった�R定には専��機を使わずに、シャーシーにボードを差し込むだけで�官�できるNational Instruments（NI）社のPXI（図2）を�W(w┌ng)��した。�Q�R定�_(d│)はボード1��で出来ているため、ボードを�{加すれば、これらの電流・電圧以外のパラメータも�R定できる。
図2 National Instrumentsの拡張可�Δ扮R定�_(d│)PXI 信��(gu┤)発�昊_(d│)やSMUなどのボードを差し込むだけで拡張できる
�O動�h価システムを構築したことで、今後のテストプログラム開発を�]縮できると同時に、テスト����も次��に改良されることで高くなっていく。テストプログラムは、NIの開発ソフトウエアであるLabVIEWで作り、電源電圧や端子電圧の印加、レジスタ設定や�R定�v路図変��(g┛u)などを行う。また、再構成しやすくすることを考慮しながらテストシーケンスを組んでいる。ここでは管理ソフトウエアであるNIのTestStandを使っている。
東��は、構築した�O動テストシステムを次世代����にも適��できるようにするため、電源電圧�J(r┬n)囲や�a(b┳)度�J(r┬n)囲を広げて�R定するシーケンスを作っている。さまざまな�R定条�Pを�k瞬で変えられるように、マトリクススイッチを�W(w┌ng)��した。NIはマトリクススイッチも提供している。ここでは、マトリクスの行にICの端子を接��し、�`に�R定�_(d│)のチャンネルを接��した。これによってICのさまざまな端子に電圧や電流を加えるSMUやその�T果を�R定するデジタルマルチメータを、�~単に切り��えられる。マトリクス�Xのスイッチはマルチプレクサを使って�O動的に切り��える。
この�T果、����の�R定時間は��来の1/143の時間で済んだとしている。����の�R定時間は、サンプル数15個、�h価項�`70、�a(b┳)度条�P3点を、サンプル入れ��え時間とつなぎ��え時間、サンプル1個の�R定時間を考慮して���Qした。サンプル1個を�O動的に�R定するとしてもすべての項�`や条�Pをテストすると525時間かかり、PXIを使って完���O動化すると3.65時間かかった。
東��のエンジニアは、実はNIのハードウエアとソフトウエアを使うのはこれが初めてだった。今�vのテスト�h価時間�]縮�\術は2013�Qになってから開発したという。これまでNIの開発ソフトLabVIEWや、ハードウエア�R定シャーシーPXIなどを半導��メーカーが使ったという��例はほとんど��(m┬ng)られていなかった。
