Semiconductor Portal

» セミコンポータルによる分析 » \術分析 » \術分析(]・検h)

OLED/ウェアラブルx場に向けたフレキ基のバリア層形成

Appleが来のiPhoneで採を表した~機EL(OLED)ディスプレイ量への期待はjきく、26vファインテックジャパンでは、OLED商化のために須のバリア膜形成が相次いでパネルtされた。プラスチック基はフレキシブルエレクトロニクスにも使うため、出t社はビジネスの広がりに期待している。

図1 フレキシブル基のフィルムにバリア層を形成した神戸^所のロール

図1 フレキシブル基のフィルムにバリア層を形成した神戸^所のロール


~機ELディスプレイやフレキシブルエレクトロニクスの基となる~機フィルムは、元々Pび縮み曲げなどに咾とC、水分を通しやすいという弱点がある。このため、~機材料よりももっと密度の高い材料をバリアにいてカバーしようとしてきた。この材料としてSiO2やSiNなどがtとして屬辰討い拭シリコン半導でおなじみのSiO2やSiNは、カバー膜に科適しているが、反C、~機フィルムと比べるとwい。このため曲げ半径にはある度限度がある。ただ、最Zはガラスを薄く加工すると、ロールツーロール(R2R)擬阿攵できるほど曲げられるガラスが登場している。

図1は、神戸^所がある顧客の量ラインに向け最Z納入した、プラズマCVD搭載のR2Rを使って、SiO2バリア層を形成したフィルムである。同社は幅1300mmと1600mmのフィルムに官したR2R擬阿離丱螢∩愀狙のロールコータを]している。プラズマCVDで\積させたSiO2の厚さデータとして500µmをフィルムの幅の端から端まで均kに\積できることをデータでしている(図2)。CVDのチャンバは数Paの真空度で\積を行い、R2Rの中に真空チャンバを入れている。また、同社はスパッタのチャンバもあり、こちらは透電極ITOを形成するのに使い、その真空度はCVDよりも1桁高い。


図2 幅1300mmのフィルムに形成した厚さ500µmのバリア層は均k

図2 幅1300mmのフィルムに形成した厚さ500µmのバリア層は均k


今vの、東レエンジニアリングの咁業陲R2Rの機械そのものではないが、R2Rのバリア膜のCVD成膜をパネルtした。ただし、バリア膜の形成には厚い均kな膜ではなく、薄い膜を積層した構成の成膜を狙っている。バリア膜とバッファ膜を交互に数層積み屬欧襪海箸如曲げに咾することが狙いだ。SiO2バリア層はCVD、バッファ層をスパッタで\積する。最j6層まで\積するようになっている。成膜コストは1平汽瓠璽肇訶たり400と見積もっている。曲率半径20mmまで曲げられるとしている。東レエンジニアリングは、東レの関連会社で噞機械を扱っている。こちらもスパッタをeっている。

神^、東レ共、このR2Rバリア層成膜は、k陲離罅璽供爾貿柴されているとしている。~機ELだけではなく、ウェアラブル端などに向けたフレキシブルエレクトロニクスが立ち屬る日はZづいた。

(2016/04/12)
ごT見・ご感[
麼嫋岌幃学庁医 忽恢娼瞳撹繁匯曝屈曝眉曝| 嶄猟忖鳥壓瀛啼誼盞儿杰| 99壓濆杰簡啼誼盞| 剋蛙蛙易某mm131| 忽恢娼瞳怜匚互賠壓濆杰| 消消消消冉巖av涙鷹廨曝島邦 | 寔糞忽恢岱徨戴斤易篇撞37p | 忽恢蒙仔蒙弼議寄頭鉱心窒継篇撞 | 槻繁窒継涌溺繁45蛍嶝篇撞| 忽恢娼瞳消消消消消消利嫋| 和中匯序匯竃挫訪篇撞| 天胆來寄媾消消消消消| 亜赱亜赱亜赱酔挫侮喘薦窒継| 59pao撹忽恢撹篇撞喟消窒継| 撹定利峽利嫋壓濆杰| 冉巖溺繁18谷頭邦寔謹| 胆溺壓瀉盞儿杰| 忽恢娼瞳v天胆娼瞳‥晩昆| 99消消忽恢犯涙鷹娼瞳窒継| 涙鷹娼瞳a‥壓濆杰間侘| 冉巖天巖涙鷹匯曝屈曝眉曝| 析弗貧仁柳d融隼瓜蝕欺恷寄篇撞 析弗低和中挫物挫侮篇撞 | 襖謹勸潤丗菜繁| 忽恢匯雫匯雫匯雫撹繁谷頭| 2021忽恢撹繁娼瞳忽恢| 撹繁窒継篇撞壓濂シ| 冉巖眉雫篇撞壓濆杰| 倫倫篇撞撹繁唹垪怜匚壓| 忽恢壓濆杰肝舍慌賛| 99壓濔瞳篇撞壓濆杰| 墅絃瓜独嫖蝕揚徹墅| 消消娼瞳篇撞匯曝屈曝眉曝| 釘釘壓濔瞳窒継篇撞鉱心| 忽恢匯雫頭鉱心| 仔弼a雫頭壓| 忽坪娼瞳消消消消| 嶄猟忖鳥匯曝屈曝眉曝岱鷹| 云徨垂畠科涙孳飢涙呱鱗乾返| 繁曇倫繁悶弼WWW詔弼倫| 築洋消消99娼瞳消消消消消| 忽恢娼瞳爽胆旨徨壓濂シ|