IoT時代を見据えた少量H|官\術出したセミコンジャパン2016

IoT時代は、端からクラウドでのデータ解析、可化まで、システム指向が咾泙襦商化が始まっている工場の予防保(preventive maintenance)のためのIoT端は、工場ごとに仕様や要求J囲が異なる少量H|t開となりそうだ。その時代に官したアイデアがセミコンジャパンに出した。 [→きを読む]
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IoT時代は、端からクラウドでのデータ解析、可化まで、システム指向が咾泙襦商化が始まっている工場の予防保(preventive maintenance)のためのIoT端は、工場ごとに仕様や要求J囲が異なる少量H|t開となりそうだ。その時代に官したアイデアがセミコンジャパンに出した。 [→きを読む]
1のクルマにめるエレクトロニクス(ECU:電子U御ユニット)の割合はO動運転時代には今以屬忙\えてくる。レーダーやLIDAR、802.11p、V2X、GPS/GNSS、キーレスエントリ、TPMSなどに無線システムは\する。それらのテストコストをらすkつの解案がNational InstrumentsのHILsだ。 [→きを読む]
半導の基本は、やはりトランジスタ。トランジスタの性Δ鰊確にRろうとすると実はかなりMしくなってきている。オフからオンへの立ち屬りの]いSiCやGaNなどが登場、周S数帯域が拡jした。半導は陵枦澱咾筌妊スプレイTFT、ReRAM/PCRAMなど、パラメータR定が要な噞が拡jした。Tektronixはそのような性Α噞に向けた半導R定_をリリースした。 [→きを読む]
National Instrumentsは、帯域幅1GHzと広い無線通信の設・テストを行う2世代のVST(ベクトル信・肇薀鵐掘璽弌鳳R定_「NI PXIe-5840」を発売する。帯域幅が広いため、5世代の携帯通信(5G)やIEEE802.11ac/axに拠するデバイスのテストなどRFトランシーバやチップをテストする。 [→きを読む]
Mentor Graphicsはパワー半導のX的信頼性をh価するテスターMicReD Power Tester 600A (図1) を発表した。来のテスターは電気的性をh価し、Xの性はある時点での的な性しかR定できない。今vMentorのテスターはXによる経時変化をh価する信頼性試xのテスターともいえる。 [→きを読む]
ダイヤモンド薄膜を開発しているElement Six社が、軍S長10.6µmのCO2レーザーを99%透圓任るダイヤモンドを開発中である。このほどPhotonix 2016でその試作をtした。EUVのX線を作り出すCO2レーザーのXとして使う。 [→きを読む]
Appleが来のiPhoneで採を表した~機EL(OLED)ディスプレイ量への期待はjきく、26vファインテックジャパンでは、OLED商化のために須のバリア膜形成が相次いでパネルtされた。プラスチック基はフレキシブルエレクトロニクスにも使うため、出t社はビジネスの広がりに期待している。 [→きを読む]
12月16〜18日東Bビッグサイトで開されたSEMICON Japanでは、IoTx場を狙った]・検hが相次いだ。IoTx場向けの200mmや中古、などのブースに加え、}軽にフリップチップ実△里任るマウンタや少ピンのミクストシグナル向けのテスターなど、IoTx場を咾T識したが`立った。 [→きを読む]
半導工場ではすでにIndustry 4.0が使われているが、が集めた膨jなデータをセキュアに読み出すシステムがここではLかせない。IDMでもない。メーカーでもない。サードパーティのセキュアなシステム企業M2Mモジュールのj}Telit Wireless Solution 社がIoTビジネスのk環として扱っている。300mm工場の90%以屬このsecureWISEを使っているという。AEC/APC Symposium 2015に参加した同社がらかにした(図1)。 [→きを読む]
パワー半導のテストコストを下げる提案をケースレー・インスツルメンツが行った。これは、テクトロニクス・ケースレーイノベーション・フォーラムでらかにしたもの。並`のパラメータテストやTDDB試x、高aバイアス試x、データ解析での時間]縮例を紹介した。 [→きを読む]