NI、「アドバンテストとは��合しない」�R定�_で半導��テスターを�啣�
研�|開発��のフレキシブルな�R定�_を開発している��National Instruments社が半導��テスターを充実させてきた。8月にテキサス�Ε�ースチンで開かれたNIWeek 2016において、�B�^変化型メモリ��のテスターをはじめ、テストパターン発�昊_とその開発ツール(ソフトウエア)、RF半導����テスターVST2.0、2�Q�iに発表したSTSの進化�X況などを発表した。
図1 �B�^変化メモリを効率良くテストする 出�Z：National Instruments
新しい�B�^変化型メモリ（図1）のテストでは、��来の半導��パラメータ・アナライザに代わり、PXI（PCI eXtensions for Instruments）ベースの�@��機でテストする�気��]期間に�T果がわかる、と同社Automated Test Marketing担当ディレクタのLuke Schreier��(図2)は述べた。��来だと、DC/AC��性を調べるのに、SMU（ソース�R定ユニット：電源を供給して電圧あるいは電流を�R定する����）やAWG（任�T�S形発�昊_）と同期を�Dりながら、�R定していた。
ここにPXIベースの�R定�_を使えば、DC�R定も高周�S�R定もずっと�]く行える。同期をとる�v路がPXIシャーシ内�陲離丱奪�プレーンに搭載されているからだ、とLuke Schreier��は語る。初日の講演では、��来のパラメトリックアナライザをベースに�R定するシステムでは6カ月かかっていたテストがPXIベースにするとわずか2週間で済むとしている��「これは、FPGAベースのI/Oカードを使っていることも高�]テストを可�Δ砲靴討い襦廚噺世�。「��来だと最も��いループ�]度の工��で何かを設定する場合でも、FPGAを使ってハードウエアでループが構成されているため�]い」とする。このことは、もっと�Hくのデータを�D�uできるというメリットに通じる。
図2 National Instruments社Automated Test Marketing担当ディレクタのLuke Schreier��
半導��デバイス�R定��のモジュールとして、最小電流10fAと微小電流を�RれるSMUであるPXIe-4135、7 1/2ケタのDMM（デジタルマルチメーター）PXIe-4081も発表した。
デジタルIC�R定��の新����では、新しいデジタルパターン���R�_NI PXIe-6570とパターンエディタNI Digital Pattern Editor(図3)をリリースし、これまで以�屬縫侫譽�シブルにいろいろなテストに�官�できるという。��来だとテスト��のプローブカードをもっと�jきくしてほしいとか、消�J電��が�jきいから�]��冷却を要求する、�Hチャンネルへの�官�などの要求があった。今�vのPXIベースの�R定�_では消�J電��は低いうえにFPGAでカスタマイズできるため、これらの要求に答えることができるとしている。しかも、FPGAのプログラミングはグラフィカルなLabVIEWソフトを使ってできる。
図3 デジタルICのテストパターンを開発し実行する 出�Z：National Instruments
以�屬里茲Δ平�����に加えて、進化を�~げているSTS（Semiconductor Test System）も紹介した。2�Q�iにセミコンポータルは、DC/ACテストや高周�SRFテスト(sパラメータ�R定)などを行える量����のテスターとしてSTSを紹介したが(参考�@料1)、今�vは��に無線通信�R定機�Δ鮟室造気擦討い襦�
先月リリースしたRF�R定��のモジュールVST（Vector Signal Transceiver）2.0のPXIe-5840 (参考�@料2) もPXIシャーシに搭載できるためSTSに内�鼎垢�。また最�j26GHzのミリ�S��sパラメータも�R定できるほか、RFパワーアンプの�R定にも�官�し、最�j+38dBmの送信パワーを�R定できる。パワーアンプでは消�J電��を下げるため、パワーアンプの電源電圧を�k定にせず信���單戮鳳�じて変化させるというエンベロープトラッキング機�Δ蘯{加した。この�\術は、任�T�S形発�昊_を使ってパワープロファイルを作り出し、スマートフォンやIoTデバイスなどのバースト通信と�D合を図りながら消�J電��を下げるもの。これによってバッテリ��命を��ばすことができる。STSではエンベロープトラッキング�\術の��性を��しく�h価する。
パワーアンプは�j電��を送信するため、出��を�\すにつれ歪が�\加する��向があるが、「歪を抑えるデジタルプレディストーション（DPD）も�_要だ」、とSchreier��は言う。先月、発表されたVST 2.0では、出��を�屬欧討い�につれ、線形性が失われ歪が�jきくなっていくことに�瓦靴撞佞力弔魏辰┐襪海箸農�形性を��償するというDPDを紹介したが、NIはプレディストーションのアルゴリズムを開発、それをFPGAに組み込んでいる。STSにVST2.0を組み込むことで、高出��パワーアンプを��確に�h価できるようになる。
2�Q�iにSTSを紹介した時はファブレスのCirrus LogicとIDTが採��した��例を紹介していたが、Schreier��は「実はもっと�Hくのカスタマを�eっているが、�@�iを�o表できなかった」と言う。今�vの講演ではInfineon Technologiesが使っていることを��らかにしたが、カスタマの数は毎�Q2倍のペースで�\えてきたとする。この中には日本のユーザーも含まれているが、�@�iを��らかにできるのは�峙�の3社だけ。ユーザーとしてはIDM（�貭湘�合型半導��メーカー）やOSAT（後工��の�佗薀瓠璽�ー）、��性�h価するR＆Dセンターなどがある。STSの最�jのメリットは、アナログやRF、パワーマネジメントICのテストを開発から量��までスムースに�々圓任�ることである。STSはPXIシャーシ��のビークル（Vehicle）だとしている。
Schreier��は、アドバンテストの����はSTSとは��合しない、という。「アドバンテストのテスターは、むしろメモリやマイクロプロセッサなどSoCの量��テストに向いており、��合するのはNIではなくTeradyneでしょう」と語った。
参考�@料
1. NI、RF/ミクストシグナルIC向けフレキシブルなテスターをリリース (2014/08/07)
2. 5G通信、802.11axに�官�可�Δ淵愁侫肇Ε┘▲戞璽垢�RF�R定�_をNIが発売 (2016/07/13)
