図1　タッチセンサ内�泥疋薀ぅ�ICのテスター「T6391」　出�Z：アドバンテスト

ディスプレイシステムではいわゆる「�Y縁」にタッチセンサコントローラやLCDドライバを搭載している。次世代のスマートフォンやタブレット、モバイルPCなどのディスプレイでは、タッチパネルコントローラとLCDドライバを集積化することで、この�Y縁をさらに薄くできる。配線も�~単になる�屬法▲離ぅ��敢�も容易になる。ルネサスのドライバIC�靆腓了匆饉劼��A収したSynapticsは、タッチセンサコントローラとLCDドライバを1チップに集積したIC（参考�@料1）をすでに設��中である。

T6391では、デバイスの�Hピン化や高�]インターフェース�官�などディスプレイドライバの機�Ε謄好箸鬟�バーする。最�j3584ピンのドライバICにも�官�する。512個のI/Oチャンネルを�△─�高�]インターフェースでスループットを�屬欧觜�夫もしている。I/Oピンは最�j1.6Gbpsというデータレートで動作し、モバイル��格のMIPIインターフェースを�△┐織疋薀ぅ�ICをテストできる。4Kテレビのテスト��に最�j6.5Gbpsのデータレートでデータ伝送できる。12月��に出荷する予定。

図2　モジュール�擬阿離▲淵蹈�/ミクストシグナルIC　出�Z：アドバンテスト

EVA100では、まるでNational InstrumentsのPXI����（参考�@料2、3）を�[��するようなモジュール�擬阿砲覆辰討�り、試作�h価から量��まで�官�する。アナログ電圧、電流源、パターンジェネレータ、オシロスコープなどの機�Δ�EVA100に納められており、それぞれボードを差し込むことで機�Δ鮗存修垢襦�モジュール�擬阿世函△い蹐い蹐淵▲淵蹈�ICに�官�できるため、アドバンテストはこれからモジュールの�|類を�\やしていく予定だ。

EVA100向けにテストシーケンスを�~単に設定するためのソフトウエアもアドバンテストが提供する。直感的な操作を可�Δ砲垢襪燭瓩縫廛蹈哀薀犖生譴鷲塒廚如��R定�_画�C、シーケンスエディタ、そのテンプレート、レポート機�Δ��△錣辰討い襦�

テストハンドラM6245では、�j量のメモリの�a度��性を�R定できるようにし、かつ0.3mmというファインピッチの����もテストできるようにするため、マシンビジョンによるアラインメント�擬阿鮠W��して位����めを行っている。����のボールの位��やセンタの位��を検出、512個のメモリの位����め時間は60〜70秒、テスト時間も同じ��度であるため、デュアル構成で1ロットの512個のメモリをテストしている時間で、次のロットのメモリの位����めをしておく。このデュアル構成により、時間�]縮ができる。

図3　量�奭けのテストハンドラ　出�Z：アドバンテスト

�a度��性の�R定には、昨�Q発表したM4871(参考�@料4)と同様、水とお湯の2��に浸す�擬阿鮠W��する。ただし、昨�Qの����では16個あるいは32個までのICしか扱えなかったが、今�vは512個まで扱うことができる。モバイル��のLPDDRに加え、NANDフラッシュにも使えるとしている。

参考�@料
1. Synapticsがルネサスを�A収するメリットは�jきい (2014/06/16)
2. NI、RF/ミクストシグナルIC向けフレキシブルなテスターをリリース (2014/08/07)
3. 日本NI、半導��分野への進出の狙いを池田社長に聞く(動画) (2014/11/21)
4. アドバンテスト、プラットフォーム戦�Sを推進、ハンドラやモジュールに��長 (2013/12/27)